优化 FPGA 利用率和自动测试设备数据吞吐量的参考设计
judy 在 周五, 01/25/2019 - 15:31 提交
TIDA-01051 参考设计用于演示极高通道数数据采集 (DAQ) 系统（如用在自动测试设备 (ATE) 中的系统）经过优化的通道密度、集成、功耗、时钟分配和信号链性能。利用串行器将多个同步采样 ADC 输出与几个 LVDS 线结合
TIDA-01051 参考设计用于演示极高通道数数据采集 (DAQ) 系统（如用在自动测试设备 (ATE) 中的系统）经过优化的通道密度、集成、功耗、时钟分配和信号链性能。利用串行器将多个同步采样 ADC 输出与几个 LVDS 线结合